ESTUDO DE DEFEITOS EM DISPOSITIVOS SEMICONDUTORES POR CAT
- Disponibilidade: Esgotado
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R$11,00
| Código: | 9788526801295 |
| EAN: | 9788526801295 |
| Peso (kg): | 1,000 |
| Altura (cm): | -1,00 |
| Largura (cm): | -1,00 |
| Espessura (cm): | -1,00 |
| Especificação | |
| Autor | RICARDO BENETTON MARTINS |
| Editora | UNICAMP |